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JKTHMS-600光學冷熱臺是使用最為廣泛的高精度冷熱臺。其寬泛的溫度范圍（-196°C到600°C）和升溫速率（0.1到150°C/min），以及高精度（全程0.1°C）和高穩(wěn)定（0.01°C），使其在各行業(yè)得到廣泛的應用。

JK-CH600190-XRD光學冷熱臺是一種安裝在X-射線衍射儀上研究樣品變溫X-射線衍射的附件。產(chǎn)品采用液氮致冷、電阻加熱的方式，提供-190~600℃（選型）或RT~1000℃（選型）溫度范圍內(nèi)的氣氛/真空測試環(huán)境。適合于粉末、片材樣品在變溫下進行X-射線結構研究，適配現(xiàn)有各種X-射線衍射儀（布魯克、賽默飛、理學等）。

JKGX-190光學測試冷熱臺采用液氮制冷和電熱絲加熱方式，可以在-190℃~600℃范圍內(nèi)進行溫度和環(huán)境控制，搭配其他儀表進行電學、光學等測試。$n結構緊湊，適用于各種變溫測試$n最大溫度范圍-190~600℃（選型）$n氣密腔室設計，可通保護氣體$n上位機軟件控制支持改動或定制

GLRT-600型高低溫探針臺根據(jù)制冷方式分為液氮制冷和GM制冷機兩種，溫度范圍從-260℃度到600℃C可控。產(chǎn)品兼容低至1pA的直流信號，50GHz的高頻信號以及1KV的高壓信號； 顯微鏡、探針、變溫模塊可自行切換，提供拓展的物性測量軟件，包含光電熱等測試功能； 廣泛應用于半導體工業(yè)、MEMS、超導、電子學、物理學和材料學等領域，可以做標準的IV、CV、微波和光電實驗。

BLRT-600型背面探針型冷熱臺 適合電極在樣品背面的情況，探針可耐受高低溫環(huán)境重復使用。 上部觀察窗口離樣品距離較遠，不需要進行氣體吹掃來防止窗口表面結露。 提供外部接線盒，用于信號切換，結合外部的濕度控制模塊，適用于鈣鈦礦、太陽能電池、OLED發(fā)光等的變溫測試和分析。

ZLRT-600型正面探針型冷熱臺適合測試探針需要接觸到樣品正面的情況，測試探針可前后伸縮和自由轉動，因此使用起來靈活方便。根據(jù)探針和樣品的接觸狀況，可選擇不同材質(zhì)和觸點形狀的探針。 配套：A2505(光學平臺方腔支架)、A2801(鈹銅探針)、A2802(高溫合金探針)、A2803(鎢鋼探計)