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主要功能： 材料介電常數(shù)測試儀 半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性液晶材料:液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性 性能特點(diǎn): 溫度：RT-1000℃ 測試頻率: 20Hz- 21MHz, 分辨率:最高0.1mHz 基本精度: 0.05% 測試速度:最快5. 6ms/次 測試原理:自動(dòng)平衡電橋 高穩(wěn)定性和一致性:高達(dá)15個(gè)測試量程配置 高分辨: 7英寸, 800X600

BKTEM-3A型熱電材料性能測試儀(動(dòng)態(tài)法)也稱溫差電材料（thermoelectric materials）是一種利用固體內(nèi)部載流子運(yùn)動(dòng)，實(shí)現(xiàn)熱能和電能直接相互轉(zhuǎn)換的功能材料。熱電效應(yīng)是電流引起的可逆熱效應(yīng)和溫差引起的電效應(yīng)的總稱，包括塞貝克（seebeck）效應(yīng)、波爾貼（Peltier）效應(yīng)和湯姆遜（Thomoson）效應(yīng)。

BKTEM-S4型熱電賽貝克系數(shù)測試儀 關(guān)鍵詞：賽貝克系數(shù)，電阻 熱功率、熱電勢、或塞貝克系數(shù)描述的都是材料在一定溫差條件下產(chǎn)生感應(yīng)熱電電壓的大小，單位是V/K。 ??近年來直接將熱能轉(zhuǎn)化成電能的方法引起人們的廣泛興趣。通過熱電裝置收集熱發(fā)動(dòng)機(jī)和燃燒系統(tǒng)余熱并轉(zhuǎn)換成電能可以節(jié)省數(shù)十億美元。

SCTS-2000系型雙電測四探針測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測-改進(jìn)形范德堡測量方法測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測量，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高正確度，特

熱刺激理論是在介質(zhì)物理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的，研究這一理論的方法即熱刺激法比較簡單實(shí)用而且又能較準(zhǔn)確地測量出某些物質(zhì)（如電介質(zhì)、絕緣材料、半導(dǎo)體、駐極體等）的微觀參數(shù)，熱刺激法是一面對(duì)材料升溫一面進(jìn)行測量，即非等溫測量。由于材料（例如介電材料）中的荷電粒子的微觀參數(shù)（如活化能h、松弛時(shí)間τ等）不同，用熱刺激法就很容易將材料中的各種不同h或τ的荷電粒子分離開來，從而求出各自的參數(shù)。因?yàn)闊岽碳る娏髋c材料的

TDT-3000 Analyzer型擴(kuò)展型鐵電分析儀 是一款的高速型模塊化鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。 模塊化設(shè)計(jì)的TDT-3000型鐵電分析儀 具有優(yōu)異的擴(kuò)展性，提供高達(dá)15中測試功能